產(chǎn)品[
小同軸屏蔽效能測試裝置
]資料
產(chǎn)品名稱:
小同軸屏蔽效能測試裝置
產(chǎn)品型號:
HDS-85
產(chǎn)品展商:
華瑞高（horigol）
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
小同軸屏蔽效能測試裝置HDS-85適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導電膜、導電玻璃、導電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測量。
小同軸屏蔽效能測試裝置
的詳細介紹
產(chǎn)品詳細描述：
產(chǎn)品介紹：適用于屏蔽織物、金屬薄板、非導電材料表面涂層或鍍層、金屬網(wǎng)、導電膜、導電玻璃、導電介質(zhì)板等平板型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測量
適用標準：GB/T 30142-2013、GJB 6190-2008、GB/T 25471-2010、ASTM 4935-2010（更替ASTM 4935-99）等參考適用；
產(chǎn)品特點：
HDS-85小同軸屏蔽效能測試裝置是美國材料試驗協(xié)會標準ASTM4935規(guī)定的法蘭同軸的高頻延伸版本，高精密加工的同軸法蘭部件在測試頻率范圍內(nèi)具有非常小的駐波比和非常低的插入損耗，有效的保證了測試結(jié)果的真實性與準確性，測試裝置核心部件鍍金處理，保證良好性能的同時具備美觀耐用性。
技術(shù)參數(shù)：
1. 測試頻率范圍：按標準在30MHz～8GHz內(nèi)使用（可在9kHz～10GHz內(nèi)使用，醉大駐波比不大于1.6）
2. 醉大駐波比（VSWR）：＜1.15（30MHz～8GHz）
3. 插入損耗：＜0.8dB（30MHz～8GHz）
4. 外形尺寸：200mm×94mm（L×D）
5. 重量：3kg
